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紫外LED性能测试系统
高精度UV（紫外）LED测试系统可以对UVLED实现值测量。
●UV LED的光谱通量（w/nm）和光功率测量，低至UV-C（200nm）
●系统在全部测量范围 200-980nm内，其不确定度可溯源至NIST
●先进的杂散光修正技术使得即使在200nm时仍能保证低噪音和高精度测量
●系统测试范围广，覆盖200nm-980nm（可见和近红外）
准确表征封装UV LED 性能
紫外LED性能取决于结温。中心的温度变化会影响紫外LED输出和预期寿命。可助用户快速、准确地测试紫外LED在各种热力条件下的性能。
紫外LED性能测试系统可靠的测试结果
●NMI 可跟踪校准 Xe 标准灯
●动态范围，适用于各种光照水平
●Spectralon®积分球，EPV Spectralon可选
●具有高效抑制杂散光的CDS-2600-UV光谱仪
测量
●总辐射通量
●总光子通量
●电功率
●波长特征
●峰值波长
●FWHM
●扫描 L,I,V,T 曲线应用领域
应用领域
●杀菌 UV 灯（GUV）
●UVC 消毒和净化灯
●紫外线固化灯
●医学光疗
●分析仪器
●园艺照明
扫描LIVT 曲线测量函数
Name | Constant | Vary | Measure |
ILV | T | I | L, V |
VLI | T | V | L, I |
TLV | I | T | L, V |
TLI | V | T | L, I |
ILV/T | T for each I Setting | I, T | L, V |
VLI/T | T for each V setting | V, T | L, I |
关键词: I=电流，L=功率， V=电压，T=温度
测量参数
电学：电流，电压，电功率
光学：光谱和总辐射通量，光子通量，峰值波长，中心波 长，质心波长，FWHM
热学：外壳温度控制与电气和光学参数
规格参数
测量范围 | 200 - 400 nm |
LED 光通量 | 1mW - 2000mW |
5 W 热负载工作温度 | 20 - 85 C |
积分球尺寸 | 6in |
积分球内部涂层 | Spectralon |
光谱仪 | CDS-2600-UV |
电源表 | Keithley 2400 |
TE 制冷 | Arroyo TE Chiller 207 |
TEC 电源 | Arroyo 5305 |
系统光谱仪规格参数
光谱仪 | CDS-2600-UV |
探测器 | TE 制冷1044 x 64 CCD (back thinned) |
冷却 | -10 ± 0.05 C |
光谱范围 | 200 nm - 960 nm |
UV 校准范围 | 200 nm - 400 nm |
分辨率 | 2.2 nm |
波长精度 | < ± 0.4 nm |
数据点间隔 | 1.0 nm |
积分时间 | 8ms - 900Seconds |
动态范围 | > 200,000:1* |
平均噪声 % (360 - 830 nm) | 0.07% |
软件校正杂散光 | < 1.0%** |
* 测量为饱和信号除以平均 10 次扫描的暗信号的标准偏差。
** 杂散光是通过 500 nm 截止滤光片在 210-370 nm 之间报告的平均透射率
