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VCSEL器件光学测试系统

简要描述:VCSEL器件光学测试系统使用独有的积分球对器件发光进行收集。该材料对紫外-可见-红外范围内的光都具有极高的光谱反射率,可分别满足研发端和产线段对高低温度测试和产线端设备免维护性的要求。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2021-01-23
  • 访  问  量:283
详细介绍

VCSEL器件光学测试系统

近年来,随着3D空间识别的广泛使用,以及生产工艺水平的提升,VCSEL产业得到了迅猛的发展。VCSEL器件较大的发光角和快速脉冲模式使得传统的激光功率计不能得到理想的测试结果,此外,VCSEL器件在手持式设备上的应用场景决定了功耗,电光转换效率和波长-温度漂移成为了评价VCSEL器件的关键指标。

在传统电光源测量系统的基础上,推出了VCSEL测试系统,是行业内研发测试,质量检查,生产测试的理想测试方案。

VCSEL器件光学测试系统使用独有的积分球对器件发光进行收集。该材料对紫外-可见-红外范围内的光都具有极高的光谱反射率,可分别满足研发端和产线段对高低温度测试和产线端设备免维护性的要求。此外,通过选择不同尺寸的积分球,可以满足从毫瓦到千瓦量级的激光功率测试。

用户可根据需要选择不同尺寸和功率的温度控制器,并将待测器件置于温度控制器上以保证待测器件工作在理想的温度。系统搭配的高速探测器可*准并快速的采集 VCSEL发出的脉冲光,并依据用户设置的测试方法完成完整的LIVT测试。

特点

●快速,便捷的自动化LIVT测试

●经溯源至NIST稳定*确的940nm标准光源校正

●高稳定性高分辨率光谱分析仪(光谱分辨率*高达0.1-0.16nm

●独有的材料,耐温400

●准确快速的温度控制

●准确快速的数据采集(*高200KHz

●用户自定义驱动方式(如:脉宽,周期等)

●强大的软件功能,可记录LIVT曲线和T-W(温度-波长漂移)曲线

测试设置和参数

VCSEL设置

数据输出

驱动电流/电压大小

光谱峰值

扫描脉冲宽度/占空比

光谱宽度(FWHM

扫描脉冲数量

平均功率/峰值功率

温度范围

LIV关系

采样频率

T-W关系


规格参数

积分球材质

Spectralon/Spectraflect/Permaflect

积分球尺寸(英寸)

6(可定制)

入光口径(英寸)

1.5(可定制)

光谱仪波长范围(nm)

800-980

光谱仪分辨率FWHM(nm)

0.1-0.16nm

光谱仪波长探测精度(nm)

±0.1nm

最大采样频率

200KHz

功率探测范围(Spectralon) @940nm

1mW200W

高速探测器线性度

0.50%

高速探测器测试精度

±1%

高速探测器有效读数

5

VCSEL温控范围(℃)

1-85

VCSEL温控精度(℃)

±0.1

 

 


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